2015年06月25日
・ベース図配置機能を追加
横断図を各測点ごとの範囲で切り取り、横断プレビューの背景にベース図として配置できるようになります。
[横断]タブをクリックし、[ベース図]→[配置]をクリック。
・3Dビューに座標・距離計測機能を追加
[3D] → [計測:2点間距離]から[計測:座標]または[計測:2点間距離]をクリック。
・路線データ複写機能を追加
路線データ(平面+縦断+横断)をそのまま複写できるようになります。
※平面のみ、または平面+縦断のみの複写もできます。
[平面]タブをクリックし、[平面線形を編集]→[路線複写]をクリック。
・縦断データの測点名編集時に、追加距離の再計算に対応
・折れ点線形の折れ点測点において、幅員の計算を広くとるように変更
・横断データに計画高を表示
横断の計画データ入力において、横断の各構成点の計画高が常に表示されるようになります。
また、計画高の入力もできるようになります。
[横断]タブをクリック。
・横断の測点作成時の利便性を向上
横断の測点作成時に、採用する横断形状が選択できるようになります。
「前測点から全複写」「前後の測点から断面補間」「次測点から全複写」のいずれかの横断形状を選択できます。
[横断]タブをクリックし、[測点作成]→[作成]をクリック。
・図面クリーナー機能を追加
3次元データの作成元となる2次元図面において、微小要素の削除や重複要素の作成、繋がった要素の連結ができるようになります。
参照図面の[図面クリーナー]をクリック。
・無償オプションソフト「SiTECH 3D Studio」を追加
「SiTECH 3D」をインストールすると、 「SiTECH 3D Studio」も同時にインストールされます。
・Windows XP にインストールできないように対応
・動作環境を変更
※64ビットのネイティブアプリケーションとしての動作に対応。ディスプレイの解像度を1280×1024ドット以上に変更